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J0423教學Q表（低頻）是測量電感線圈的電感量及它的品質因素（即Q值）的儀器。本儀器具有線路設計合理，操作簡便、性能穩定、讀數符號顯示清晰直觀的特點。該儀器能滿足教學實驗對電感測量和Q值的一般精確度的要求的測量；對電源變壓器的初、次級線圈；電源濾波扼流線圈；音箱分頻器；電視機行輸出變壓器；行、場偏轉線圈；收錄機中的偏磁振蕩線圈；阻流線圈等的電感量及Q值的測量。是供中等專業學校、職業學校、普通中學物理課堂演示實驗的理想儀器。 主要技術性能:? 1、電感測量：A;測量范圍：1mH～10H;? B;電感分檔：1 mH～10 mH；10 mH～100 mH；100 mH～1 H；1 H～10 H分四檔; ??C;測量誤差：不大于±15% ;? 2、Q值測量：A;測量范圍：0～150; ?B;Q值分檔：0～50；0～150分二檔;? C;測量誤差：不大于±20% ; ?3、使用條件：A;電源：電壓：AC200±22V 頻率：50±2Hz。 B;環境溫度：0～40℃; C;相對濕度：不大于80% ;? D;無強電磁場干擾; ?4、安全性能：A;絕緣電阻：電源進線與機殼間電阻不小于20MΩ; ?B;耐電壓：能承受1500V50Hz1min無擊穿飛弧現象; 5、外形尺寸：205㎜×270㎜×135㎜; ?6、 重量:2.1 Kg.; ??7、標準代號: Q/HDB 001-2004 ; ?8、產品符合JY0001－2003; JY0002-2003標準。

J0423教學Q表（高頻）是測量電感線圈的電感量及它的品質因素（即Q值）的儀器。本儀器線路設計合理，操作簡便、性能穩定、讀數符號采用屏幕數字顯示，具有顯示清晰直觀的特點。該儀器能滿足教學實驗對電感測量和Q值的一般精確度的要求的測量；對收音機和錄音機中的振蕩線圈、中周、天線線圈、分頻線圈；電視機中的中周高頻濾波電感、色碼電感、視放級高頻補償線圈等的電感量及Q值的測量。是供中等專業學校、職業學校、普通中學物理課堂演示實驗的理想儀器。 主要技術性能:? 1、電感測量：A;測量范圍：0.5μH～5 mH。B;電感分檔：0.5μH ～5μH ；5μH ～50μH ；50μH ～500μH ；500μH ～5 mH分四檔;? C;測量誤差：不大于±15%; ??2、Q值測量：A;測量范圍：10～300 ;???? ?B; Q值分檔：10～100；30～300分二檔;? C;測量誤差：不大于±20% ; 3、使用條件：A;電源：電壓：AC200±22V 頻率：50±2Hz 。B;環境溫度：0～40℃; ?C;相對濕度：不大于80% ; D;無強電磁場干擾。 4、安全性能： A;絕緣電阻：電源進線與機殼間電阻不小于20MΩ;? B;耐電壓：能承受1500V50Hz1min無擊穿飛弧現象。 ?5、外形尺寸：205㎜×270㎜×135㎜ ;??????? 6; 重量:2.1Kg;???? 7、標準代號: Q/HDB 001-2004 ;?? ?8、產品符合JY0001－2003; JY0002-2003標準。

MF141（J0411）型萬用電表為磁電系整流式儀表，儀表共具有19檔基本量程，是供學生使用的多量程電訊儀表。 Model MF141(J0141)multimeter is a mopving-coil restifier type in-strument with 19 basic measuring range.It is suitable.

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　　高輸出和寬帶寬 兩分頻的CBT 70J能提供大聲壓，相當于擁有更大聲壓輸出的兩分頻揚聲器那樣在其覆蓋的范圍內提供寬廣的，平滑的頻率響應。 技術指標： 產品描述 : 由16個1英寸高音單元，4個5英寸低音單元組成的70厘米J型同軸線陣列，帶恒定波寬專利電路 產品應用 : A/V，演出場所，教室，報告廳，室外：學校體育場柱桿安裝，跑道，主題公園，補聲應用。 可選性 垂直覆蓋 : 非對稱垂直覆蓋 可調： 狹窄（Narrow）=25度，非對稱 寬廣（Broad）=45度，非對稱 均衡 : 音樂（平坦）/語言 抽頭設置 : 8ohm 性能 頻率響應(-10dB) : 60Hz-20kHz 靈敏度(SPL @1m) : 100dB 功率(低阻) : 500W 聲壓級 : 127dB(峰值133dB) 覆蓋控制頻率(±20度) : 800HZ 安裝 : 10個M6吊掛點，包含墻裝支架 尺寸 : 695 x 168 x 235 mm (27.4 x 6.6 x 9.3 in)

本發明公開了一種倒裝 LED 芯片在線檢測的收光方法，該收光 測試方法包括如下步驟:待測試芯片被移動至積分球收光口的上方; 設置于積分球下方的積分球升降裝置向上運動，使所積分球的收光口 對準所述待測試的倒裝 LED 芯片的發光側，并且使設置于積分球收光 口處的板片貼緊裝載待測試倒裝 LED 芯片的盤片。按照本發明設計的 收光測試組件，能夠成功地解決倒裝 LED 芯片電機和發光面不同側的 問題，具有高的收光精度，尤其與倒裝

本發明公開了一種倒裝 LED 芯片在線檢測的收光測試組件，該 收光測試組件包括積分球組件和光學測試組件，其中積分球組件包括 積分球模塊、積分球夾具、積分球升降裝置;其中積分球模塊包括積 分球、積分球 90°轉接頭，積分球的開口設置有石英玻璃，其設置方 式是采用石英玻璃夾具套設在積分球的收光口處，其中石英玻璃夾具呈圓筒狀，其內側在略高于收光口的上方設置有凸臺，用于放置固定 石英玻璃。按照本發明設計的收光測試組件，能夠成功地解決倒裝 LED 芯片測試探針

本發明公開了一種倒裝 LED 芯片在線檢測的收光方法，該收光 測試方法包括如下步驟：待測試芯片被移動至積分球收光口的上方； 設置于積分球下方的積分球升降裝置向上運動，使所積分球的收光口 對準所述待測試的倒裝 LED 芯片的發光側，并且使設置于積分球收光 口處的板片貼緊裝載待測試倒裝 LED 芯片的盤片。按照本發明設計的 收光測試組件，能夠成功地解決倒裝 LED 芯片電機和發光面不同側的 問題，具有高的收光精度，尤其與倒裝 LED 芯片在線檢測裝置配合使 用，能夠顯著提高性能，實現倒裝 LED 芯片的

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