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一種薄膜在線激光測厚系統及方法
本發明屬于非接觸式在線測厚領域，并具體公開了一種薄膜在 線激光測厚系統及方法，包括大理石框架和設于大理石框架內部的 C 形架，大理石框架內頂部及底部設置有鋼片和導軌；C 形架具有上梁 和下梁，上、下梁之間放置待測薄膜，上梁上下端部設置第一、第二 激光位移傳感器，第一、第二激光位移傳感器分別用于測量各自發射 點到鋼片及待測薄膜上表面的距離，下梁上下端部設置第三激光位移 傳感器和滑塊，第三激光位移傳感器用于測量待測薄膜下
華中科技大學
2021-04-14
α 促黑素細胞激素的融合蛋白制備方法及應用
可應用于抑制或治療中樞神經系統炎癥中，該 α 促黑素細胞激素 的融合蛋白在宿主體內高水平穩定表達，在保留 α‐ MSH 生物活性的 同時，能夠有效跨過血腦屏障，提高藥效，同時具有延長半衰期的功 效。
蘭州大學
2021-04-14
血管活性腸肽的融合蛋白制備方法及應用
可用于制備抗炎、抗損傷、腦血管疾病、提高睡眠質量的藥物， 該融合蛋白所具有的獨特的氨基酸序列可以保證其在宿主體內高水 平穩定表達，在保留 VIP 原有功能的同時，體內半衰期顯著延長。
蘭州大學
2021-04-14
一種光伏發電并網控制方法及系統
本發明公開了一種光伏發電并網控制方法及系統。該方法一方 面利用光伏電池電壓，電流信息，根據電壓變化率，電流變化率以及 電導變化率將擾動法和增量電導法結合進行最大功率點跟蹤(MPPT) 控制，在溫度以及光照輻射強度變化時，實現對最大功率點的及時跟 蹤，提高光伏電池的輸出效率；另一方面采用多重控制策略，將并網 點的頻率、功率以及電壓作為控制量，能在光伏電池并網以及電網運 行狀態發生變化時進行實時動態響應，從而實現對光伏發電并網運行 的控制。
華中科技大學
2021-04-14
一種導軌平行度測量方法及裝置
本發明公開了一種導軌平行度測量方法，具體為：將左、右側 導軌的其中一側作為基準導軌，另一側作為被測導軌；同時采樣左側、 右側導軌的高度信息；采用最小二乘法對基準導軌的采樣高度進行擬 合得到一條基線；在基準導軌上依據基線生成兩組包容線，從兩組包 容線的間距選擇最小者，其對應的上、下包容線作為評定平行度的基 準包容線；生成平行于基準包容線且包容被測導軌采樣高度的上、下·110·包容線，上、下包容線間的縱向間距即為平行度。本發明還提供實現 上述方法的裝置。本發明實現了機床導軌平
華中科技大學
2021-04-14
一種基于視覺控制的磨邊裝置及方法
本發明公開了一種基于視覺控制的磨邊裝置及方法，其利用傳送單元傳送待磨邊的工件;利用視覺控制單元的圖像采集模塊采集待 磨邊工件的圖像數據，并將圖像數據傳送至圖像處理模塊中，圖像處 理模塊基于圖像數據獲得反映工件邊緣的輪廓特征，并根據輪廓特征 獲得數控系統加工用 G 代碼;最后利用磨邊單元在控制系統的控制下 根據 G 代碼對待磨邊工件進行高效磨邊。本發明采用視覺控制的方式， 實現餐具盤邊緣的自動化磨削，且利用位于不同工位的視覺控制單元 與磨邊單元，實現餐具輪廓圖像
華中科技大學
2021-04-14
一種光標定位、光標控制方法及裝置
本發明提供了一種光標定位、光標控制方法及裝置。該方法包括：S1：將顯示器等分為預設數量的子區域，各個子區域以不同的頻率進行閃爍；S2：接收腦電采集處理設備發送的腦電信號，所述腦電信號為所述腦電采集處理設備對用戶注視所述顯示器時的腦電信號進行采集后獲得的；S3：對所述腦電信號進行處理分析，根據處理分析結果從所述各個子區域中確定第一子區域為所述用戶的注視
中國農業大學
2021-04-14
電磁脈沖助推式漸進拉深成形方法及裝置
本發明提供了一種電磁脈沖助推式漸進拉深成形方法，包括將 待成形板料置于凹模與凸模之間；實施預成形，使位于凸模底部的待 成形板料被壓入凹模內；在待成形板料位于凸模底部的部分施加電磁 力，向下推送待成形板料；同時在待成形板料的周邊均施加電磁力， 向凹模的中心推送待成形板料，使待成形板料流入凹模內；在凸模上 施加下壓力，使凸模下行，使待成形板料位于凸模下部的部分被向下 拉深；反復執行沖壓拉深與電磁脈沖拉深，直至完成待成形板
華中科技大學
2021-04-14
一種工業藍牙網絡系統及組網方法
本發明公開了一種工業藍牙網絡系統及組網方法，其中一個藍牙網絡系統包括一個主站和多個從站，每個從站擁有一個網絡密鑰裝置，用于存儲加密的藍牙安全組網過濾參數。組網前，藍牙主站根據微微網 ID 設置搜索過濾參數，確保只有符合要求的從站才能被搜索到；藍牙從站將微微網 ID 設置為自身的設備類型，并根據主站的藍牙地址設置連接過濾參數，確保能被自己隸屬的主站搜索到并只允許該主站與自己建立連接。組網中，藍牙主從站根據設置的組網過濾
華中科技大學
2021-04-14
一種芯片位置和傾角檢測裝置及方法
本發明公開了一種芯片位置和傾角檢測裝置，包括光源組件、光路傳輸組件、攝像組件以及自準直儀，其中光源組件由分別對應于芯片和基板的第一、第二光源構成；光路傳輸組件由第一、第二和第三半透半反棱鏡以及第一、第二反射鏡共同構成，由此在同一光路系統中實現對芯片和基板位置的檢測；攝像組件由具備不同視野的第一和第二攝像單元構成，其中第一攝像單元用于采集芯片或基板的大視野圖像，根據 MARK 點實現初步定位，第二攝像單元用于采集其具體位置圖像；自準直儀用于獲取代表芯片水平傾角信息的法線傾斜量。本發明還公開了相應的檢測
華中科技大學
2021-04-14