一種基于給定閾值的數(shù)控成品電路板性能退化測(cè)評(píng)方法
本發(fā)明公開(kāi)了一種基于給定閾值的數(shù)控成品電路板性能退化測(cè)評(píng)方法,包括:(a)選取測(cè)評(píng)樣板執(zhí)行加速性能退化試驗(yàn),并測(cè)量表面絕緣電阻值;(b)執(zhí)行試驗(yàn)數(shù)據(jù)擬合,建立測(cè)試樣板的加速性能退化模型;(c)基于失效閾值并結(jié)合加速性能退化模型,計(jì)算得出測(cè)評(píng)樣板的偽失效壽命;(d)選取測(cè)評(píng)樣板的壽命分布模型,并利用偽失效壽命擬合檢驗(yàn)來(lái)計(jì)算壽命分布模型的參數(shù);(e)確定測(cè)試樣板的壽命分布概率密度函數(shù),計(jì)算其平均壽命,由此完成對(duì)電路板的性能退化測(cè)評(píng)過(guò)程。通過(guò)本發(fā)明,能夠克服現(xiàn)有可靠性測(cè)評(píng)技術(shù)中失效數(shù)據(jù)的不足,同時(shí)節(jié)約可靠
華中科技大學(xué)
2021-04-14