一種基于多目標(biāo)決策提高硬盤可靠性的方法
本發(fā)明公開了一種基于多目標(biāo)決策提高硬盤可靠性的方法,包 括:獲取不同采樣時(shí)刻硬盤陣列的參數(shù),計(jì)算不同采樣時(shí)刻硬盤陣列 的參數(shù)所對(duì)應(yīng)的隸屬值,包括溫度、性能、運(yùn)行時(shí)間以及功耗,根據(jù) 用戶的需求得到各自對(duì)應(yīng)的目標(biāo)系數(shù),包括溫度系數(shù) A、性能系數(shù) B、 運(yùn) 行 時(shí) 間 系 數(shù) C 和 功 耗 系 數(shù) D 。 獲 取 該 硬 盤 陣 列 的 聚 合 值 F=A+B+C+D,改變磁盤陣列的大小,并重復(fù)上述步驟,以獲取不同大 小
華中科技大學(xué)
2021-04-14