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儀器特點：1、出色的全反射光學系統，保證儀器有優秀的信噪比。2、全面安全的智能氣體控制模塊。3、出色的全波段氘燈背景校正技術和高性能自吸雙背景校正。4、全自動的儀器控制，光源支持高性能元素燈，一鍵快速完成。5、先進的燈位八燈架360度旋轉設計。6、設計新穎的原子化器和智能升降。7、MS Window系統下簡潔、專業、自動、完全操作的RG-WinAAS工作站軟件。

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XM-CS43高級43件創傷模型組件 ? 一、功能特點： ■ XM-CS43創傷模塊由43部件組成，采用高分子材料制成，仿真度高。 ■ 可靈活的固定在“傷者”身上，模擬真實的出血環境，血流量大小可調節。 ■ 可進行傷口識別、止血、清洗消毒、包扎、固定、搬運等練習。 ? 二、模塊組成： ■ 前額撕裂傷 ■ 下顎傷 ■ 胸部吸吮性創傷 ■ 鎖骨開放性骨折與胸膛挫傷 ■ 腹部外傷伴小腸突出 ■ 手掌的槍傷 ■ 肱骨、前臂開放性骨折 ■ 股骨、大腿開放性骨折 ■ 脛骨、小腿開放性骨折 ■ 前臂撕裂傷 ■ 右腿的截肢 ■ 小腿刺傷 ■ 足部復合型骨折 ■ 子彈貫穿傷 ■ 休克臉 ■ 臉部燒傷：1個 ■ Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ背部燒傷：1個 ■ Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ手部磷燒傷：1個 ■ Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ前臂燒傷：1個 ■ 不同程度撕裂傷、開放性骨折模塊：24個 ? 三、標準配置： ■ 高級創傷評估模塊：1套 ■ 手提鋁塑箱：1個 ■ 說明書：1冊 ■ 保修卡合格證：1張

XM-CS34高級34件創傷模型組件 ? 一、功能特點： ■ XM-CS34創傷模塊由34部件組成，采用高分子材料制成，仿真度高。 ■ 可靈活的固定在“傷者”身上，模擬真實的出血環境，血流量大小可調節。 ■ 可進行傷口識別、止血、清洗消毒、包扎、固定、搬運等練習。 ? 二、模塊組成： ■ 前額撕裂傷（流血傷口）：1個 ■ 下顎傷（流血傷口）：1個 ■ 胸部吸吮性創傷（流血傷口）：1個 ■ 腹部外傷，伴小腸突出（流血傷口）：1個 ■ 手掌的槍傷（流血傷口）：1個 ■ 復合型骨折：肱骨、前臂開放性骨折（流血傷口）：1個 ■ 復合型骨折：脛骨、小腿開放性骨折（流血傷口）：1個 ■ 右腿的截肢（流血傷口）：1個 ■ 休克臉（流血傷口）：1個 ■ Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ度臉部燒傷：1個 ■ 不同程度撕裂傷、開放性骨折模塊：24個 ? 三、標準配置： ■ 創傷模型組件：1套 ■ 手提鋁塑箱：1個 ■ 說明書：1冊 ■ 保修卡合格證：1張

本發明公開了一種用于模塊化多電平換流器中的子模塊拓撲結 構，包括：相互串聯的第一開關模塊和第二開關模塊，其中第一開關 模塊的負端與第二開關模塊的正端相連接，開關模塊由一個全控型器 件和一個二極管反并聯而成；直流電容，其正極和負極分別與第一開 關模塊的正端和第二開關模塊的負端相連接；還包括第三開關模塊， 其與第一開關模塊和第二開關模塊電氣連接，使得正常工作時該第三 開關模塊的全控型器件一直施加觸發脈沖從而一直處于導通狀態，而 發生直流故障時通過閉鎖該第三開關模塊的觸發脈沖實現阻斷直流故 障電流。本發明

原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope, AFM)，是一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質的表面結構及性質。將一對微弱力極端敏感的微懸臂一端固定，另一端的微小針尖接近樣品，這時它將與其相互作用，作用力將使得微懸臂發生形變或運動狀態發生變化。掃描樣品時，利用傳感器檢測這些變化，就可獲得作用力分布信息，從而以納米級分辨率獲得表面形貌結構信息及表面粗糙度信息。 原子力顯微鏡主要由帶針尖的微懸臂，微懸臂運動檢測裝置，監控其運動的反饋回路，使樣品進行掃描的壓電陶瓷掃描器件，計算機控制的圖像采集、顯示及處理系統組成。微懸臂運動可用如隧道電流檢測等電學方法或光束偏轉法、干涉法等光學方法檢測，當針尖與樣品充分接近相互之間存在短程相互斥力時，檢測該斥力可獲得表面原子級分辨圖像，一般情況下分辨率也在納米級水平。AFM 測量對樣品無特殊要求，可測量固體表面、吸附體系等。

項目簡介 原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope, AFM)，是一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質的表面結構及性質。將一對微弱力極端敏感的微懸臂一端固定，另一端的微小針尖接近樣品，這時它將與其相互作用，作用力將使得微懸臂發生形變或運動狀態發生變化。掃描樣品時，利用傳感器檢測這些變化，就可獲得作用力分布信息，從而以納米級分辨率獲得表面形貌結構信息及表面粗糙度信息。原子力顯微鏡主要由帶針尖的微懸臂，微懸臂運動檢測裝置，監控其運動的反饋回路，使樣品進行掃描的壓電陶瓷掃描器件，計算機控制的圖像采集、顯示及處理系統組成。微懸臂運動可用如隧道電流檢測等電學方法或光束偏轉法、干涉法等光學方法檢測，當針尖與樣品充分接近相互之間存在短程相互斥力時，檢測該斥力可獲得表面原子級分辨圖像，一般情況下分辨率也在納米級水平。AFM 測量對樣品無特殊要求，可測量固體表面、吸附體系等。a 傳統的商業CAFM 針尖圖  b 覆蓋有石墨烯層的CAFM 針尖應用范圍原子力顯微鏡(AFM) 在許多基礎研究領域中得到廣泛使用，是超微觀察工具，特別是對于不具有導電性的生物樣品和有機材料等，AFM 同樣可以提供較高分辨率的表面形貌圖像。同時，AFM 還具有操縱和改造原子、分子世界的手段。原子力顯微鏡為了避免加寬效應，一般通過電子束加工針尖使其曲率半徑達到幾個納米，來提高圖像的分辨率和準確度。但仍然存在著一些局限性，例如：針尖性質的變化很大，獲得高分辨率的圖像變得很難。另外，針尖掃描時的磨損對分辨率也有影響。AFM 能獲得原子分辨率，主要是因為在其針尖的表面存在著原子級的突起，構成了與樣品的實際接觸。但是這些突起的尺寸形狀和化學組成是未知的，而且在實驗中經常發生改變，因此獲得可信賴的針尖是成像過程中獲得高分辨率的關鍵。不同的針尖適用于AFM 不同的應用領域。導電原子力顯微鏡（CAFM）采用固體金屬作AFM 的針尖，對材料進行納米尺度的電學表征依然存在著同樣的困擾。 項目階段北京大學工學院研究團隊利用單層石墨烯包覆CAFM 金屬針尖，發現石墨烯包覆的針尖保留了包覆前針尖的形狀，并且包覆的針尖能承受非常高的電流和摩擦力。新型針尖具有穩定、耐磨、壽命長、圖像失真度低等優點，很好的解決了現有AFM 針尖中存在的問題，提高了AFM 的儀器性能。知識產權該項研究已經申請了歐洲專利，納米技術設備領域的諸多公司表現出了對該項研究成果的強烈興趣。合作方式 技術轉讓、合作開發、技術入股。

利用等強度的偏振正交的雙色飛秒光場（800nm + 400nm），深入研究遂穿電子干涉的干涉動力學，提出了利用新型的“時空電子干涉儀”，探測電子在遂穿過程中獲得勢壘下相位，揭示電子隧穿的動力學信息。該工作利用先進的冷靶反沖離子電子動量成像譜儀（所謂COLTRIMS），清晰地測量了正交雙色光場下的光子周期內干涉圖案。通過與理論模擬的對比 [強場近似（SFA）,庫侖修正的強場近似(CCSFA)和數值求解含時薛定諤方程（TDSE）]，揭示出了光電子勢壘下相位的對干涉圖案的貢獻。研究結果表明勢壘下相位蘊藏著的電子隧穿動力學信息，對光電子干涉和光電子全息起著不可或缺的作用。

研究團隊利用一團冷原子云在量子界面中演示了厄米性可調的動態分束器的干涉，在原子系綜中實現了行進中的光波與定域的原子自旋波之間的直接干涉，構建了一種新的物理模型。該物理模型同時適用于所有類似結構的介質和光界面，為非厄米量子物理研究提供了一個新的平臺。?