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解析超高遷移率層狀Bi2O2Se半導體的電子結構

2021-04-11 00:00:00
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項目成果/簡介:

超高遷移率層狀Bi2O2Se半導體的電子結構及表面特性。首先使用改良的布里奇曼方法得到高質量的層狀Bi2O2Se半導體單晶塊材,其低溫2 K下霍爾遷移率可高達~2.8*105 cm2/Vs(可與最好的石墨烯和量子阱中二維電子氣遷移率相比),并觀測到顯著的舒布尼科夫-德哈斯量子振蕩。隨后,在超高真空條件下,研究組對所得Bi2O2Se單晶塊材進行原位解理,并利用同步輻射光源角分辨光電子能譜(ARPES)獲得了非電中性層狀Bi2O2Se半導體完整的電子能帶結構信息,測得了電子有效質量(~0.14 m0)、費米速度(~1.69*106 m/s,約光速的1/180)及禁帶寬度(~0.8 eV)等關鍵物理參量。


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