LT2200加持了真理光學首創的衍射愛里斑反常變化（ACAD)的補償修正技術的使用，使用戶無需選擇分析模式，即可在全粒徑范圍獲得準確可靠的粒度結果；LT2200系列粒度儀還采用了真理光學獨創的高速全息信號處理技術，測量速度最高可達每秒20000次，確保不漏檢任何粒徑和形狀的顆粒； LT2200系列粒度儀的粒徑范圍為0.02um-2200um, 適用于制藥，電池材料，地質，水文，化工和磨料等諸多行業的顆粒粒度分析。